SYP-1250D差熱分析儀

差熱分析儀是在程序控制溫度下，測量物質與參比物之間的溫度差與溫度關系的一種技術。 

主要測量與熱量有關的物理、化學變化，如物質的熔點、熔化熱、結晶與結晶熱、

相變反應熱、熱穩(wěn)定性（氧化誘導期）、玻璃化轉變溫度、

氧化或還原反應，晶格結構的破壞和其他化學反應。

主要特點：

1.  全新全封閉式高級陶瓷爐體設計結構，大大提升靈敏度和分辨率以及更好的基線穩(wěn)定性。 

2.  采用進口合金傳感器，更抗腐蝕，抗氧化，傳感器靈敏度高。

3.   采用Cortex-M3內核ARM控制器，運算處理速度更快，溫度控制更精確。

4.  采用USB雙向通訊，完全實現(xiàn)智能化操作。

5.  采用7寸24bit色全彩LCD觸摸屏，實時顯示儀器的狀態(tài)和數(shù)據(jù)。

6.  智能化軟件設計，儀器全程自動繪圖，軟件可實現(xiàn)各種數(shù)據(jù)處理，

如熱焓的計算、玻璃化轉變溫度、氧化誘導期、物質的熔點及結晶等等。

差熱分析儀參考標準：

GB/T 19466.2 – 2004 / ISO 11357-2: 1999第2部分：玻璃化轉變溫度的測定；

GB/T 19466.3 – 2004 / ISO 11357-3: 1999第3部分：熔融和結晶溫度及熱焓的測定；

GB /T 19466.6- 2009/ISO 11357-3 :1999 第6部分氧化誘導期 

氧化誘導時間（等溫OIT)和氧化誘導溫度（動要態(tài)OIT)的測定。